屏蔽暗室的关键性能指标与测试方法

屏蔽暗室的性能通过一系列量化指标进行评估，确保测试结果的准确性和可比性。屏蔽效能是基础指标，要求10千赫至150千赫磁场衰减不低于70分贝，150千赫至1000兆赫达到100至110分贝，1吉赫至18吉赫保持90至100分贝以上。归一化场地衰减是评价半电波暗室的关键参数，要求30兆赫至1000兆赫范围内，实测值与理论值偏差不超过正负3.5分贝，优于标准正负4.0分贝的要求。场地均匀度用于辐射抗扰度测试，要求80兆赫至2吉赫频率范围内，测试区的场均匀性达到0至正6分贝。吸波材料反射损耗指标要求30兆赫至18吉赫范围内不低于15分贝。这些指标的测试严格遵循GB12190、ANSI C63.4及IEC61000-4-3等标准方法。暗室地板的导电连续性要求缝隙不超过最小工作波长的十分之一，避免产生额外的电磁反射。

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